電子二甲 D9932021 楊凱麟
D9932021 楊凱麟
記憶測試系統一個高生產量測試器為靈活測試設備例如多芯片包裝(MCPs)當手機和筆記型電腦變得更加緊湊,仍然合併更多改進的功能,記憶設備相應地增加了在速度和在存儲容量。
此外,對被堆積的設備的需求,例如微量+閃光(微閃)設備和多芯片包裝(MCPs),有扶搖直上的由於結束市場用法的多樣化。
T5587能適應這個需要以它改進的閃光記憶(閃存)測試功能和高生產量,有能力在最大測試率400Mbps和同時測試512個設備。
生產處理程序的設計,以滿足不同高容量的需求。
8000處理器的快速通道已被設計為最終機IC處理的需求。快速通道8000能夠處理組件存儲在多個媒體和編程/測試網站。媒體的輸入和輸出選項,包括標準的和非標準的JEDEC盤,錄音設備,送料斗/桶和塑料/金屬管。快速通道8000系統可以配置多種編程/測試網站,激光打標功能,溫差測試,和3D視覺檢測。快速通道8000是一個通用的處理程序,能夠生產“成品”的組成部分。
3.
一..DUT:進行測試的半導體元件通常稱作DUT(Devuce Under Test),有時也稱作UUT(Unit Under Test)。
二.DPS:元件電源供應器(DPS)是用來提供元件電壓與電流。待測元件的電源腳(VDD或VCC)通常是與DPS相連接。
三..RVS:參考電壓供應器是用來提供驅動器邏輯0或邏輯1的位準,還有PE卡上比較器電路的VIH、VIL、VOH與VOL位準。
四.PMU:精密量測單元也稱作參數量測單元是用在作精密的DC量測。PMU能夠施加電壓量測電流或施加電流量測電壓。
五.ATE:AC測試是要確保元件符合時序規格。AC測試的作法是依照元件的AC規格設定適合的時序值(邊緣放置)與訊號格式,並且執行功能測試順序。
六.CP:在測試期間限制由測試系統的提供電壓或電流的硬體。
七.FT:當元件在執行邏輯功能動作時。輸入資料為被送至DUT且輸出資料會被讀取,再使用腳位電子卡上的比較器以決定測試結果是pass還是fail。
八.Binning:一種將測試過的元件分成適當的組別的分類方式。有硬體分類與軟體分類。
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