電子三甲-D9932004-王俊傑
作業一:
當手機和筆記型電腦變成更普遍而且包含更大的功能,記憶體裝置相同的有更大的速度在能力管理上。
因此,在需求上也有更漂亮的裝置,就像DRAM +裝置和多晶片,急遽暴增在市場上的使用者有更多樣化的選擇。
T5587是可以看見增大這個記憶體測試機能的需求和更高的生產量,在400mbps之內可以有最大量的測試而且也可以同時測試到512裝置。
作業二:
生產
生產處理程序的設計,滿足不同高容量的需求。
8000處理器快速通道被設計為終機IC處理需求。快速通道8000能夠處理組件儲存在多個媒體和編程/測試網站。媒體的輸入和輸出選項,包括標準的和非標準的JEDEC,錄音設備,送料碗/桶和塑料/金屬管。快速通道8000系統可配置多種編程/測試網站,激光打標功能,溫差測試,和3D視覺檢測。快速通道8000一個通用的處理程序,能夠生產“成品”的組成部分。
作業三:
DUT:進行測試的半導體元件通常稱作DUT(Devuce Under Test),有時也稱作UUT(Unit Under Test)。
DPS:元件電源供應器(DPS)是用來提供元件電壓與電流。待測元件的電源腳(VDD或VCC)通常是與DPS相連接。
RVS:參考電壓供應器是用來提供驅動器邏輯0或邏輯1的位準,還有PE卡上比較器電路的VIH、VIL、VOH與VOL位準。
PMU:精密量測單元也稱作參數量測單元是用在作精密的DC量測。PMU能夠施加電壓量測電流或施加電流量測電壓。
ATE:AC測試是要確保元件符合時序規格。AC測試的作法是依照元件的AC規格設定適合的時序值(邊緣放置)與訊號格式,並且執行功能測試順序。
CP:在測試期間限制由測試系統的提供電壓或電流的硬體。
FT:當元件在執行邏輯功能動作時。輸入資料為被送至DUT且輸出資料會被讀取,再使用腳位電子卡上的比較器以決定測試結果是pass還是fail。
Binning:一種將測試過的元件分成適當的組別的分類方式。有硬體分類與軟體分類。
我們的未來 ♥(1)










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